自检  

根据自检方法，自检安全机制一般可以分为: 

软件自检

对安全相关路径中的使用到的指令，利用预先设置好或自动生成的数据或代码，对物理存储(例如，数据和地址寄存器)或运算器及控制器(例如，指令解码器)，或者它们两者进行检测。

硬件自检

在控制单元内部集成专用自检硬件，最常见的就是内建自测试(BIST)，通过在芯片设计中加入额外自测试电路，测试时从外部施加控制信号，运行内部自测试硬件和软件，检查电路缺陷或故障，是防止故障潜伏的重要安全机制。

BIST一般仅在处理单元初始化或者下电时运行，所以不能覆盖瞬态故障，根据其自检时间一般可以分为:

1、Online Self-test: 在车辆启动时间限制内尽可能多地进行测试。

2、Offline Self-test: 车辆停机或诊断测试，最大的测试覆盖率，车辆断电时没有时间限制。

3、Periodic Self-test: 车辆在正常操作模式下，进行的诊断测试。

而根据其自检的内容，BIST又可以分为:

1、MBIST(Memory Built-In Self Test): 对memory，包括RAM或ROM，进行读写测试操作，判断Memory是否有制造缺陷，属于内存相关的安全机制。

2、LBIST(Logic Built-In Self Test): 对芯片内逻辑电路进行自检，属于处理器相关安全机制。

其中，LBIST是硬件自检非常重要的安全机制，其工作原理如下图所示:

具体来讲，首先利用测试生成器，生成测试向量，然后将测试向量输入被测试电路，最后BIST控制器将测试电路输出结果和预存的结果进行对比，一旦二者存在差异，则表明被测试电路存在故障。

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