可程序硬盘高低温度BIT老化箱实验过程

编辑 | 环仪仪器

固态硬盘（SSD）在生产过程中，需要在高低温环境下进行BIT老化测试，下面，我们根据实际要求，看看测试是怎么做的。

测试硬件：环仪仪器 可编程高低温 SSD BIT老化实验箱

测试软件：BurnInTest、H2test

测试环境：高温75℃／低温-10℃

测试样品：固态硬盘

测试流程设计：

测试流程分为两个阶段，高温测试和低温测试。具体步骤如下：

高温测试（75℃）： 运行BurnInTest软件进行高温测试，持续12小时。

切换至低温测试（-10℃）： 在测试箱温度切换至-10℃，运行BurnInTest软件进行低温测试，同样持续12小时。

测试周期：一个完整的测试周期包括高温和低温测试各一次，总时长为72小时，共循环三个周期。

测试后校验：

测试结束后，使用H2test软件进行校验，检查固态硬盘是否出现坏块。这一步骤在常温环境下进行，确保在不同温度条件下测试后的硬盘状态。

以上是使用可编程高低温 SSD BIT老化实验箱的测试要求，如有其他测试疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。