TEM测试小知识

Q1：透射电镜（TEM）样品制备就有哪些方法？

A：1）粉末样品：直接用分散剂超声分散滴在载网上进行观察；或进行树脂包埋，超薄切片后，转移铜网上进行制样；

2）复型技术：常用复型材料为非晶碳膜和各种塑料薄膜，对样品没有损坏；

3）化学减薄/双喷减薄：对于大部分金属样品，可以进行化学减薄或双喷减薄；

4）离子减薄：对于陶瓷或金属合金合物，无法电解腐蚀，只能用离子减薄；

5）聚焦离子束FIB：与电解双喷和离子减薄相比，可通过SEM在线观察下进行定点制样，获得更高质量的TEM样品。

Q2：TEM图片比较模糊，可能是什么原因导致？

A：一般模糊的原因有两种情况：

1）材料的原子序数低（背景是碳膜，材料如果原子序数低导致和背景分不开）；

2）材料太薄（衬度太低。导致背景信号增强，影响对比度）。

Q3：大尺寸颗粒拍TEM，制样超声分散不开，聚集严重怎么改进？

A：粉体制样时一般采用乙醇超声分散，常规为40W，超声半小时，大尺寸可延长超声时间，一般1小时，再长也没有太大意义，而且容易导致超声仪水温过高，也不安全；尺寸大的颗粒可以考虑包埋后进行离子减薄或超薄切片。

总结

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