XPS测试常见问题（二）

今天铄思百检测小编继续分享有关于XPS测试的常见问题，希望能帮到各位同学们！

        （一）我的样品含有1%的Cu，为什么检测不出来？

       答：XPS是表面成分分析技术，主要探测表面10nm深度的成分信息，样品表面如果有暴露空气，会吸附空气中的碳氢化合物，所以实际表面铁含量肯定小于1%。当表面含量低于0.1%，XPS就无法探测到，可以用离子源溅射去除表面吸附层后再进行分析，这样可以排除表面的干扰。当然测试条件上，含量低的组分尽量用较大的能量，扫描时间延长等。

        (二)XPS只能测半定量吗？

        答：是的，XP$主要是半定量分析，主要采用灵敏度因子法，灵敏度因子是基于标准样品获得的，实际样品与标准样品肯定有偏差，所以得到的定量数据就是半定量的数值。

      （三）光电子能谱为什么不能测试挥发性物质？

        答：因为测试的时候要抽真空的，而且XPS测试的时候样品量特别少，挥发组分可能会被抽没掉，也有可能污染仪器，不建议挥发物质测XPS。

      （四）X射线光电子能谱（XPS）和X射线荧光光谱(XRF)是一样的吗？

        答：①相同点都是用x-ray激发，不同点是，荧光是检测被激发原子发射荧光波长、强度实现对元素定性和定量，能谱是测定激发出来的光电子动能实现对元素的分析。

②x射线荧光光谱是XRF,做元素含量的定性，定量分析，可以f-u,但是无法区分价态；射线光电子能谱是XPS,主要做元素含量的定性半定量分析，以及价态分析，分析方向不一样的。

      （五）卫星峰是什么？对于卫星峰，我们有必要进行分峰分析么？它的相对位置的标准谱有么？

        答：XPS谱图中，除了特征谱峰，还存在由于终态效应导致的卫星峰，例如shake up/off峰，这些谱峰也是非常重要，可以帮助鉴定化学态。是否分峰取决于实验需求，可以查找相关文献帮助确定解谱参数。