供应Sinton BCT-400/BLS-I少子寿命测量仪套件

一、公司介绍：
Sinton Instruments 最初由 Ron Sinton 于 1992 年作为 Sinton Consulting 成立，致力于开发和应用新工具和分析，以用于硅太阳能电池和集成电路的研发和制造。Sinton的目标是使最先进的设备物理和测量成为常规使用。Sinton通过提供物理上严格、简单且具有成本效益的测量工具和分析，为研发和制造过程控制中的实际问题开发解决方案。拥有有 600 多台少子寿命测量仪器在世界各地使用。Sinton这些仪器的结果通常是研发和工业出版物的核心内容，并已成为全球实验室事实上的校准寿命测量标准。Sinton Instruments 通过大学和工业界的合作，保持并扩展了在硅器件物理、测试和测量、砖材料和硅器件加工方面的实践经验，以便为每个新应用带来最好的仪器设计和分析软件。

二、Sinton Instruments产品概览：
1、Sinton BCT-400少子寿命测量仪
Sinton BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命.Sinton BCT-400是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备，具有瞬态和准稳态两种测量模式。Sinton设备可探测3mm 深度范围少子寿命，并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值，可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量，并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。
2、Sinton BLS-I少子寿命测量仪
BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。Sinton BLS-I少子寿命测量仪可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。
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3、BLS 和 BCT-400测景系统无需表面化即可对单昆硅或多晶硅(硅或硅砖)进行整体寿金测量、由于寿金测是是表征生长和污染缺陷的最敏感技术之一，因此这些工具可让您在生长后直接评估硅质量。
（1）为了灵活地测量所有表面类型(从150 毫米直径到平面)，请选择Sinton BLS；
（2）对于仅设计用于测量平面的紧凑型工具，请选择 SintonBCT-400.
（3）SintonBCT-400也可以机械集成到自动化站中，软件可以设置为无缝自动测量
三、主要应用:
1.Sinton鉴定寿命在 1-10+毫秒范围内的高纯度砖
2.Sinton合格的 B-Cz 硅生长，无需特殊表面处理
3.Sinton表征多晶块中的寿命和陷阱恋度
四、其他应用:
1.Sinton Instruments少子寿命仪可检测 BO 缺陷、Fe 污染和表面损伤
2.Sinton Instruments少子寿命仪可监测 Cz、FZ、多晶硅或 UMG 硅的初始材料质量