ISO 26262硬件随机失效率

为了对硬件随机失效进行量化，引入了硬件随机失效率λ，其定义为:

失效率是指元器件在单位时间内发生失效的概率，记为λ，一般以小时(h)作为时间计量单位，所以其单位为: 次/h。

考虑到电子元器件失效率极低，所以一般采用FIT (Failures In Time) 来计量，1 FIT=1次失效/10^9 h。

例如: 某电阻失效率λ=2 FIT，即该电阻在10^9 h内存在两次失效。

不知道大家有没有想过，既然电子元器件的失效和自身老化相关，那它的失效率为什么是常数，而不是随时间变化的?

为了回答这个问题，我们先来看看电子元器件的生命周期特性。电子元器件的生命周期非常符合浴盆曲线(Bathtub Curve)，电子元器件整个生命周期大致可以分为三个阶段:

第一阶段: 早期故障期，即磨合期，该阶段故障多属于系统性故障，和设计，制造相关，故障率相对较高。

第二阶段: 偶然故障期，即有用寿命期，该阶段是电子元器件正常使用周期，持续时间长，失效率低且较稳定，设计无法消除，属于随机硬件故障，ISO26262 中硬件量化指标就是针对该阶段失效率的评估。

第三阶段: 耗损故障期，上随着电子元器件使用寿命到期，故障率随之上升。

因此，在ISO 26262中查到的是恒定值，而不是一个时间函数。

那么怎么获取电子元器件的失效率呢？一般来讲可以通过以下三种方式获得:

1、历史数据: 根据已有或相似产品，预估新产品的失效率，但全新的产品没有历史数据可参考。

2‘测试: 属于最真实和最准确的数据来源。但测试周期长，成本高。

3、行业公认的标准: 根据SN29500, IEC 62380等行业公认的标准和指南中提供的可靠性预估算法计算。

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