华为OD机试-- 出错的或电路

题目

某生产门电路的厂商发现某一批次的或门电路不稳定，具体现象为计算两个二进制数的或操作时，第一个二进制数中某两个比特位会出现交换，

交换的比特位置是随机的，但只交换这两个位，其他位不变。

很明显，这个交换可能会影响最终的或结果，也可能不会有影响。

为了评估影响和定位出错的根因，工程师需要研究在各种交换的可能下，最终的或结果发生改变的情况有多少种。

输入描述:

第一行有一个正整数N;其中1≤N≤1000000。

第二行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第一个输入数，即会发生比特交换的输入数。

第三行有一个长为N的二进制数，表示与电路的第二个输入数。注意第二个输入数不会发生比特交换。

输出描述:

输出只有一个整数，表示会影响或结果的交换方案个数。

示例1   输入输出示例仅供调试，后台判题数据一般不包含示例

输入

3

010

110

输出

1

说明

原本010和110的或结果是110，但第一个输入数可能会发生如下三种交换：

1.交换第1个比特和第2个比特，第一个输入数变为100，计算结果为110，计算结果不变

2.交换第1个比特和第3个比特，第一个输入数变为010，计算结果为110，计算结果不变

3.交换第2个比特和第3个比特，第一个输入数变为001，计算结果为111，计算结果改变

故只有一种交换会改变计算结果。

Java 实现：https://renjie.blog.csdn.net/article/details/128104706

Python实现：https://renjie.blog.csdn.net/article/details/128383496

C++ 实现：https://renjie.blog.csdn.net/article/details/127291942

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C实现：https://renjie.blog.csdn.net/article/details/131004703