TRPL成像/时间分辨光致发光成像

通过PicoQuant 荧光寿命成像显微镜MicroTime 100 和荧光寿命光谱仪FluoTime 300 直接观察电荷载流子动力学

通过寿命成像技术可以研究载流子动力学，例如，可以通过强度相关的光致发光寿命测量，确定载流子扩散的影响以及其对总体寿命的影响。利用时间分辨光致发光成像，可以识别载流子扩散过程、局部不均匀性和缺陷位点的影响。通过这种多维度的方法，可以实现对半导体/钙钛矿材料进行多功能而强大的分析。

示例：为什么要研究光伏和层状结构中的载流子扩散过程？

▪ 通过光感应（如 cw 或脉冲激光）产生载流子

▪ 扩散长度是载流子产生和重组之间的平均长度

▪ 扩散长度可根据载流子（PL）寿命测量和计算：

𝑳 = √Dπ

L = 扩散长度[cm］

D = 扩散率 [cm²/s] （对于 Perovskites，通常为 0.005-2 cm²/s)

π = (PL) 寿命 [s]

▪ 寿命越长，说明扩散长度越长，半导体材料的质量越高/重组过程的规模越大。

▪ 重组率取决于材料中缺陷的数量：

- 掺杂会增加太阳能电池中的缺陷

- 高掺杂与重组率、较短的寿命和扩散长度有关

对于寿命在 10 -100 ns 之间的 Perovskite，扩散长度为 1 -3 µm

因此，通过 PL 寿命测量确定扩散长度是确定光伏电池质量和重组率的另一种技术。

系统结构：

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