[origin]包含仪器响应的瞬态荧光拟合

时间分辨荧光光谱（TRPL）是光谱物理的重要内容，目前常用的手段有如时间关联的单光子计数（TCSPC）及条纹相机等。其中TCSPC是通过雪崩光电二极管（APD）进行探测的，灵敏度高，可以捕获单个光子，相比于条纹相机能够实现低荧光强度的测量。但由APD组建的TCSPC设备在时间分辨率上不如条纹相机，条纹相机依靠条纹管可以实现<1ps至10ps的半宽分辨，而TCSPC的时间分辨大多在ns量级。因此，如果要测量ns级的荧光寿命，就必须考虑仪器响应函数（IRF）的影响。

仪器采集的数据实际上是真实数据与IRF的卷积，那么从采集数据逆推出真实数据可以有两种方法，首先是直接去卷积（deconvolution），在origin里可以使用X-Function “deconv”进行去卷积。以origin默认目录 .\Samples\Curve Fitting\FitConv.dat 示例数据为例，导入数据，

在origin的命令行窗口输入

即可实现去卷积，但效果不好，而且有些时候得不到解。

这时就需要用到另一种方法，猜测真实函数，将真实函数与IRF卷积，得到的结果与采集数据拟合。因为卷积是某种混合过程，比去卷积这种分离元素的过程要容易且稳定，所以如果能够猜到真实函数的线型，使用这种方法是非常方便的。而瞬态荧光寿命函数恰恰是已知的衰减指数函数形式，因此能够利用这种方法。

方法的教程详见 Help Online - Tutorials - Fitting with Convolution (www.originlab.com/doc/en/Tutorials/Fitting-Convolution)，方法很简单，新建一个拟合函数，函数模式选择origin C，参数输入y0, A, t，点击按钮黏贴教程下方的代码即可。

在使用前还需要修改Fitted Curves选项中的X Data Type为Same as Input Data，并且X轴、采集数据和IRF要分别放在A、B、C三列上。之后就可以拟合需要的测量数据了。

如果真实函数是双指数函数或其他形式，修改代码中的

一行即可。