电子元器件自由跌落试验机

一、用途：

    电子元器件自由跌落试验机主要用于电池、手机、相机等小型电子产品及零部件之自由跌落测试。

二、标准依据：UL 2054、UL1642、GB/T 18287-2000、SJ/T 11169-1998、SJ/T 11170-1998、YD 1268-2003、YD 1268.2-2003、GB 8897.4-2002、QB/T 2502-2000、QB/T 2947.3-2008、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB/T 18333.1-2001、HEV、EV等测试标准。

三、主要技术参数：

规格型号： HE-F-315S HE-F-320S

跌落高度： 300～1500mm 300～2000mm

整机尺寸： W700×D900×H1760mm W700×D900×H2260mm

机台重量： 90Kg 110Kg

测试负载： 2Kg±100g

最大试件尺寸： L150×W200（mm）

高度显示方式： 不锈钢标尺（最小指示1mm）或数显式

试验方式： 自由跌落

升降方式： 电动升降

跌落驱动方式： 气动跌落（气源用户自配）

电源功率： AC 单相 三线 220V 50HZ  500W

跌落底板介质： 钢板（电木板、大理石板、压克力板、水泥板供选择）