本讲座主要是基于扫描电子显微镜的系统来研究阴极荧光光谱的,可研究微区的荧光特性。
图中可见存在一些线位错,暗处为非辐射复合中心。 从俯视图观察,如暗点较多,则缺陷较多。
器件的性能也可以进行分析。截面图中不同的发光光谱可以区分不同的功能层,发光的效果则可以揭示性能的好坏。
对于低维纳米结构中应力的改变进行表征。
新的地质学研究方向为CL光谱研究。