XRF操作问题解答十问第九则
2023-06-20 14:51 作者:bili_74204057874 | 我要投稿
XRF测试作为常用测试之一,但仍有许多同学不太了解,本篇文章由科学指南针科研服务平工作人员们从网上或是同学询问中,收集了大量的问题,并做出解答,另外,有什么关于XRF的问题可以联系我们平台工作人员哦~
1.仪器使用和软件操作复杂吗?
答:不复杂。针对不同的行业应用,我们有不同的软件应用,适应每个行业的要求,普通操作人员只要经过我们的简单培训后便能熟练操作使用。
2.可以测镀层吗?
答:可以。单镀层,双镀层及多镀层样品;而且一次测量中测量所以镀层厚度,测试速度快,测试结果准确方便。
3.软件有英文和繁体的吗?
答:有英文的没有繁体的;我们的软件主要是英文和中文两种,对于 ROSH 软件,它带有第三方语言编辑功能,可由客户根据自己的要求,编辑成任意国家语言。
4.为什么会出现本底?
答: X 荧光分析仪器在测试时会有散射,游离电子,线路干扰等都会出现本底,可以俗称“背景噪声 ”。
5.什么是我们作为元素分析的基础?
答:特征 X 射线,其由被测量物质的基本组成元素决定,元素不同,其特征 X 射线能量不同。
以上就是科学指南针检测平台对网络上XRF相关资料的整理如有测试需求,可以和科学指南针联系,我们会给与您最准确的数据和最好的服务体验,希望可以在大家的科研路上有所帮助。
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