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锡须检查 元器件焊接点检测 锡单晶 弧光放电 及光

2022-10-11 10:00 作者:GRGTEST检测  | 我要投稿

广电计量拥完整的锡须检查试验设备,经验丰富的分析人才,能够高效准确的提供锡须检查测试服务。


锡须是从元器件焊接点的锡镀层表面生长出来的一种细长的锡单晶,锡须的存在可能导致电器短路、弧光放电,以及及光学器件损坏等危害。

 

测试周期:

3到7个工作日  可提供特急服务

 

产品范围:

PCBA

测试项目:


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