芯片模组低温测试箱的测试标准

编辑 | 环仪仪器

芯片模组低温测试箱用于产品的低温测试，下面是“环仪仪器”整理出的一些设计到芯片模组低温测试的标准和要求，供各位参考。

试验名称：芯片模组做低温测试

试验设备：环仪仪器 低温测试箱

试验条件：

1. EIAJ ED-4701/200:2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法（寿命试验 II）

a. 将样品存放在预先设定在指定温度（低温）的低温测试箱中，保存指定的时间。

b. 除非另有规定，储存温度应为最低额定储存温度。

c. 储存温度允许误差在-25℃以下时为±5℃，在-25℃以上下限为+3℃、-5℃。

d. 测试时间应为1000小时。

2. JESD22-A119A 低温存储寿命

a. 在-40℃、-55℃、-65℃三个低温中选择合适产品测试的温度。

b. 测试时间应为1000小时。

c. 除非另有规定，中期和最终电气测试测量应在器件从移出后 96 小时内完成。

对于以上测试要求，如有疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。