高性能OFDR国产自研高端设备OCI1500助力芯片制造

东隆集团自主研发以光频域反射（OFDR）技术为核心的高分辨光学链路诊断仪OCI——OCI1300/OCI1500，它们都具有超高空间分辨率，能精确测量回损、插损和光谱等参数，其事件点定位精度高达0.1mm，其广泛应用于光器件、光模块、硅光芯片等内部链路反射情况测量。

下面小编为大家展示一组硅发射芯片测量，测试的设备是国产自研的高分辨光学链路诊断仪OCI1500。

硅发射芯片主要组件有一维光栅耦合器，可变光衰减器，强度调制器和偏振调制器。将芯片和OCI1500连接，进行反射率分布测量。

在10μm空间分辨率下获得测试结果，其中存在多个反射峰，且与芯片内部器件一一对应。为确定反射峰位置，在调制器上施加信号，对反射峰的变化情况进行观察和分析，得到最终分析结果。

从上述测试结果看出，高分辨光学链路诊断仪OCI1500可实现对芯片内各器件的识别、定位及回损测量。并且OCI1500设备在芯片前期研发以及后期产线产品批量合格检测中，能起到关键性作用。

在如今半导体芯片竞争已经进入白热化的时候，国内芯片面对众多的围追堵截，但已经形成了一定实力的厂家并且在稳步上升阶段，中等实力的厂家也在一个相对快车道上发展。因此，东隆集团携高分辨光学链路诊断仪OCI1500助力加速国产化芯片制造，和硅光芯片项目开发、测试与生产，为您保驾护航，砥砺前行。

产品特点

• 波长范围：1525~1625nm或1265~1340nm

• 空间分辨率：10μm@50m、20μm@100m

• 测量长度：100m（可定制升级）

• 自校准，无需人为干预，稳定性好

• 可扩展分布式温度、应变测量

• 可提供定制服务

主要应用

• 光器件、光模块测量

• 光纤长度精确测量

• 硅光芯片测量

• 光谱、群延时测量

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