固态硬盘SSD BIT测试箱

编辑 | 环仪仪器

一、产品简介：

BIT（Burn-In Test）测试就是使用BIT软件对固态硬盘进行循环写入测试，再放入高温箱中静置。PCIE SSD BIT测试柜可以提供SSD的BIT测试所需要的高温老化环境，目的是为产品做潜在失效分析，因为在长时间读写和高温环境下，会加速芯片老化，可能导致故障提前出现。

二、技术参数：

三、产品特点：

单口最大速度4000MB/S，满载同时工作时最高速度1500MB/S。

共12台电脑，每台电脑同时测试8个PCIE NVME SSD。

可配合自动测试软件一键操作。

每个端口带保护座，座子坏了直接换保护板。

每个端子配12V转3.3V5A供电，提供充足的工作电流，并带短路过流过热保护。

插入下压式母座，不会用久后接触不良。

硅胶定位柱，轻松上下盘，用久后不会手痛，且上面盘效率更高。

有32、40、60、80各种长度的定位孔，适合测试各种长度的SSD。

四、BIT电气规格：

单口输出电压：DC 3.3±0.15V

单口输出最大电流：5A

电源输出接口：96PCS

单口最大速度：32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S

满载同时工作最大速度：16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S

以上是PCIE SSD BIT测试柜的一些介绍，如有产品选型疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。