白光干涉仪和原子力显微镜测试粗糙度的区别

        白光干涉测粗糙度和AFM测粗糙度是两种常见的表面粗糙度测试方法。它们在原理和应用方面有一些明显的区别。接下来铄思百检测小编整理了部分有关白光干涉仪和AFM的区别，希望可以帮助有需求的同学。

        白光干涉测粗糙度是一种基于光学干涉原理的测量技术。它通过测量反射或透射光的相位差来评估表面的粗糙程度。这种方法使用一束白光照射样品表面，并通过干涉现象来测量光波在表面上反射或透射时的相位差。然后，使用干涉仪或干涉显微镜来观察干涉条纹的形成和分布。通过分析这些干涉条纹，可以得出关于表面粗糙度的信息。白光干涉测粗糙度具有非接触、高精度和宽测量范围的特点，适用于各种表面材料和形状。

        相比之下，原子力显微镜（AFM）是一种使用探针扫描样品表面的显微镜技术。AFM通过测量探针与样品表面之间的相互作用力来评估表面的粗糙度。探针可以是尖锐的针尖或微小的探测器，它们通过与表面接触，测量和记录表面的形貌和性质。AFM可以提供非常高的分辨率，可以检测纳米级的表面特征，并且可以在不同的环境中进行测量，包括液体和气体。

        白光干涉测粗糙度和AFM测粗糙度在测量原理和适用范围上存在一些显著的差异。白光干涉测粗糙度适用于宏观和中等尺度的表面粗糙度测量，可以提供较大范围的测量结果，从上面的结果图中可以看出，白光干涉的范围为毫米级别的。而AFM适用于纳米级表面粗糙度测量，结果中测试范围为微米级别可以提供非常高的分辨率。此外，AFM还可以提供关于表面力学性质和化学成分的额外信息。

        总之，白光干涉测粗糙度和AFM测粗糙度是两种常用的表面粗糙度测试方法。它们在原理和适用范围上存在一些差异，因此在选择合适的测试方法时需要考虑具体的应用需求和测量尺度。

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