Agilent 4287A 射频测试仪

Agilent 4287A 射频测试仪，

1MHz～3GHz，以100KHz分档

·阻抗测量范围宽，从200mΩ到3KΩ

·在低测度信号电平上具有优良的测量重复性

·基本精度为1%

·高速测量9ms

Agilent4287A射频测试仪

　　Agilent4287A射频测试仪LCR在1MHz～3GHz频率范围可以提供精 ，可靠和快速测量，以改进生产线上对电子元件进行测试的质量和生产率。与反向测量技术不同，采用直流电压测量技术能在大的阻抗范围进行精 测量。

生产率高，质量可靠

　　4287A适于在射频范围对电子元器件进行测试。4287A的测量非常快。此外，在小测试电流(100μA)优良的测试重复性还可以显著提高生产率，因为所需的取平均过程非常短。

系统组建简单

　　测试头电缆(1m或利用延伸电缆时为2m)很容易接到(元件固定装置的)被测件点测件接点附近，而不会使误差有任何增大。内置比较器功能，高速GPIB处理器接口可用来简化与元件固定装置和PC机的组合。增强的比较器功能可以使复杂的仓室适用于多频或阵列芯片测试。

便于使用

　　8.4英寸彩色显示器能清楚观察测量设置和结果。新研制的用户接口使操作过程更为方便且无差错。内置统计分析功能可以提供监视测试质量和 的过程。可选用的LAN接口有助于统一进行生产监控。此外，若干APC-7 SMD测量夹具可以与4287所提供的夹具架和APC-3.5转APC-7适配器联用，从而无需制作 夹具。

技术指标

（全面的技术指标参见数据资料表）

测量参数：|Z|,|Y|,θ-z（度/弧度）θ-y（度/弧度），G,B,Ls,Lp,Cs,Cp,Rs,Rp,Q,D（可同时显示4种测量参数）。

测试频率：1MHz～3GHz

频率分辨力：100KHz

测试信号：V:4.47mV～502mV(f≤1GHz）; 4.47mV～447mv(f>1GHz)

　　　　 I:0.0894mA～10mA(f≤1GHz);0.0894mA～8.94mA(f>1GHz)

电平监视功能：电压，电流

基本的Z精度：±1.0%

测量范围：200mΩ～3kΩ(1MHz下，精度≤10%)

测量时间：每点9ms（高速）

Rdc测量：可用于触点检查

校准：开路/短路/负载/低损耗电容量

补偿：开路/短路,电长度

大容量存储功能：30MB固态大容量存储或2GB硬盘（选择选件）

接口：GPIB,:LAN(10Base-T/100Base-Tx自动选择)，处理器接口

显示：8.4英寸彩色LCD显示器

一般指标

电源要求：90V～132V,或198V～264V,47Hz～63Hz,350VAmax

工作温度/湿度:5℃～40℃,相对湿度20%～80%

尺寸：234mm高×425宽×445mm深（主机）

重量：16kg/0.3kg（典型值）（主机/测试头）

主要技术资料

4287A射频LCR测试仪产品介绍，p/n 5968-5443E

4287A技术指标：p/n 5968-5758E

LCR测试仪，阻抗分析仪和测试夹具选购指南，p/n 5952-1430E

 求购的附件

16190B性能测试配件

16195B校准工具箱

16191A侧面电极夹具

16192A平行电极夹具

16193A小侧面电极夹具

16194A高温测试夹具

16196A用于1608(mm)的平行电极SMD夹具

16196B用于1005(mm)的平行电极SMD夹具

16196C用于0603(mm)的平行电极SMD夹具