HAST加速老化测试设备

HAST加速老化试验箱测试LED  HAST加速老化测试设备 

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老化试验箱是一种用于测试电子元器件和产品的耐久性和可靠性的设备。LED（Light-Emitting Diode）是一种半导体器件，可以将电能转化为光能，具有低功耗、高亮度等特点。在HAST加速老化试验箱中测试LED，可以模拟出各种极端环境下的条件，例如高温、高湿等，以加速LED的老化过程，评估其在实际使用中的性能和寿命。通过这种测试，可以确定LED的质量和可靠性，以便在产品设计和制造过程中进行改进和优化。

在测试过程中，LED样品将被放置在HAST加速老化试验箱中，使用高温高湿的环境条件，例如85°C和85%!相(MISSING)对湿度，进行长时间持续测试。通过监测LED的亮度、颜色稳定性、电流特性等参数的变化，可以评估LED在极端环境下的性能表现和可靠性。

总之，通过在HAST加速老化试验箱中测试LED，可以提前发现潜在的问题和缺陷，改善LED产品的质量和可靠性，确保其在各种极端环境下的正常运行。

一、设备用途：

    HAST加速老化试验箱广泛应用于多层电路板、IC封装、液晶屏、LED、半导体、磁性材料、NdFeB、稀土、磁铁等材料的密封性能测试，对上述产品的耐压力和气密性进行测试。

二、设备特点：

1) 采用进口耐高温电磁阀双路结构，在最大程度上降低了使用故障率。

2) 独立蒸汽发生室，避免蒸汽直接冲击产品，以免造成产品局部破坏。

3) 门锁省力结构，解决第一代产品圆盘式手柄的锁紧困难的缺点。

4) 试验前排冷空气；试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性.

5) 超长效实验运转时间，长时间实验机台运转400小时.

6) 水位保护，透过试验室内水位Sensor检知保护.

7) tank耐压设计，箱体耐压力(150℃)2.65kg，符合水压测试6kg.

8) 二段式压力安全保护装置，采两段式结合控制器与机械式压力保护装置.

9) 安全保护排压钮，警急安全装置二段式自动排压钮 .

10) 偏压测试端子耐压可达3000V(选配）

11) USB导出历史记录数据，曲线.

三、主要技术参数：

设备型号： HE-HAST-40

圆形内箱尺寸： 直径Φ400×深500（mm）

温度范围： +100℃～+132℃( 蒸气温度 )

温度波动度： ±0.5℃

温度显示精度： 0.1℃

湿度范围： 70~100% 蒸气湿度

湿度控制稳定度： ±3%RH

使用压力： 1.2~2.89kg(含1atm)

压力波动均匀度： ±0.1Kg

时间范围： 0 Hr～999Hr

加压时间： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm²  约 45 分

控制器： PLC可程式彩色触摸屏控制

内桶材质： SUS316#不锈钢板

外箱材质： SECC冷钢板高温烤漆处理

使用电源： 单相 220V  20A  50/60Hz

安全保护： 超压保护，超温保护，缺水保护等

水质要求： 纯水或蒸馏水（用户自备）

HAST加速老化试验箱测试LED有以下好处：1. 提前发现潜在问题：HAST加速老化试验箱可以模拟出各种极端环境条件，如高温、高湿等，使LED在短时间内经历长时间的使用，从而提前暴露出潜在的问题和缺陷。这有助于在产品设计和制造过程中及时发现和解决问题，避免在实际使用中出现故障。

2. 评估性能和寿命：通过HAST加速老化试验箱测试，可以评估LED在极端环境条件下的性能和寿命。例如，测试LED的亮度、颜色稳定性、电流特性等参数的变化，可以判断LED在实际使用中是否能够满足要求，并预测其寿命。这有助于确保LED产品在各种应用场景下的可靠性和稳定性。

3. 优化产品设计：通过HAST加速老化试验箱测试LED，可以获得大量的测试数据和反馈信息。这些数据可以用于分析LED的性能和可靠性，评估产品设计的优劣，并提供改进和优化的方向。通过不断改进产品设计，可以提高LED的质量和可靠性，满足用户的需求。

4. 节省时间和成本：HAST加速老化试验箱可以在短时间内模拟出长时间的使用情况，从而节省了测试时间。这有助于加快产品开发和上市时间，提高生产效率。同时，通过提前发现和解决问题，可以避免在实际使用中出现故障和质量问题，降低售后维修和退换货的成本。

总的来说，HAST加速老化试验箱测试LED可以提前发现问题、评估性能和寿命、优化产品设计，并节省时间和成本。这有助于提高LED产品的质量和可靠性，满足用户需求，增强竞争力。