冷热冲击试验箱存在的失效现象
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冷热冲击试验箱主要针对电工电子产品及其原始设备,用于考核产品对周围环境温度急剧变化的适应性,是装备设计定型的鉴定试验和批产阶段的例行试验中重要的试验,在某些情况下也可以用于环境应力筛选试验。
冷热冲击试验箱多用于高温、低温瞬时变化的条件下,环境模拟试验产品的物理特性及其它相关特性,经检验后,判定产品性能,在产品设计中是否仍能满足预定的要求,改进、鉴定和出厂检验。
冷热冲击试验箱引起的失效现象如下所示:
为确保电子产品有高可靠性,除进行相对固定的温度、湿度试验外,随着产品的耐湿性提高,对温度冲击试验的要求也不断增加。
1.启动马达时周围器件的温度急剧上升,关闭马达后周围器件会出现温度骤然下降;
2.温度的过度升高导致焊锡回流现象出现;
3.在加工过程中,元件可能受到严重热应力的影响,如:使用焊锡焊时;
4.由于产品精度要求,使元件不断遭受较大的热应力;
5.在温度较低的环境中连接到电源上,导致设备内部产生陡峭的温度梯度;在温度较低的环境中切断电源可能会导致设备内部产生反温度梯度。
冷热冲击不同于一般湿热环境,它是在常温条件下,通过冷热冲击的作用,很难发现潜在的故障。影响冷、温冲击试验的多半因素有试验温度范围、接触时间、循环次数、试样重量、热负荷等。如有其它环境试验箱疑问,可咨询相关人员。
