Agilent/安捷伦HP/惠普HP4145A半导体参数分析仪

HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室，HP4145B是电子工业中 个可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。 HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。 主要特点及优点： 在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告，有利于保持高速生产效率 可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作 内置的“源存储器”可编程序列发生器 多可存储100个不同的测试，以满足高速生产的需要 高达75000小时MTBF的可靠性设计，为不中断生产环境提供了良好的可靠性 内置的比较器简化了pass/fail测试 数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手 0.012%的 度，5?的分辨率 HP4145B简介: 产品名称：半导体参数分析仪 产品型号：HP4145B 产品品牌：美国惠普/HP HP4145B半导体参数分析仪设计用于半导体的生产线和实验室 HP4145B是电子工业中可以独立对半导体器件和材料进行直流参数的仪器。 HP4145B通过对器件加电压，测电流，HP4145B或加电流测电压并将测试结果显示在内置的 CRT显示器上，结果可根据用户需要显示为图形、表格、矩阵等等。