半导体元件恒温恒湿实验箱 - 环仪仪器

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一、产品简介：

半导体元件恒温恒湿实验箱是一种用于模拟半导体元件在恒定温度和湿度条件下进行测试和评估的设备。它们提供精确的温度和湿度控制，以满足半导体元件在不同环境条件下的性能和可靠性要求。

二、产品用途：

根据相关标准，需要对半导体元器件进行湿热存储、高温高湿试验，这些试验需要用到半导体元件恒温恒湿实验箱。

三、满足标准：

GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存

IEC 60749-42:2014

JEDEC JESD22-A100E：2020 循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试

JEDEC JESD22-A101D.01：2021 稳态温度-湿度偏差寿命测试

EIAJ ED-4701 100：2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法

四、技术参数：

温度范围：低温0℃~70℃，低可达-150℃；高温150℃，高可达200℃。

湿度范围：20~98%R.H，可根据要求订做至10~98%R.H

温度波动度：±0.5℃温度均匀度:±2℃

升温速率:＞3℃/min

降温速率:＞1℃/min 最快可达5℃/min

湿度波动度:±3%R.H

湿度均匀度:±2.5%R.H

半导体元件恒温恒湿实验箱整体配有超温、制冷系统过载、过热、过流、超压、漏电、缺水、运行指示及报警装置，加热加湿空焚，故障报警后自动停机等保护。

用户请根据半导体元件恒温恒湿实验箱使用要求，为您提供的以上规格表进行选型，如标准规格无法满足您的需求，可以访问“环仪仪器”官网，可为您量身定制最合适的解决方案。