TEM测试原理

        透射电镜作为电镜中比较主要的一种类型，今天就跟着铄思百小编来了解一下透射电镜的基本原理吧！

TEM简介

        透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2微米、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。

工作原理

        透射电镜的总体工作原理是：由电子枪发射出来的电子束，在真空通道中沿着镜体光轴穿越聚光镜，通过聚光镜将之会聚成一束尖细、明亮而又均匀的光斑，照射在样品室内的样品上；透过样品后的电子束携带有样品内部的结构信息，样品内致密处透过的电子量少，稀疏处透过的电子量多；经过物镜的会聚调焦和初级放大后，电子束进入下级的中间透镜和第1、第2投影镜进行综合放大成像，最终被放大了的电子影像投射在观察室内的荧光屏板上；荧光屏将电子影像转化为可见光影像以供使用者观察。本节将分别对各系统中的主要结构和原理予以介绍。

        成像原理与光学显微镜类似，不同点：光学显微镜用可见光作照明束，透射电子显微镜用电子为照明束。光学显微镜中聚焦成像用玻璃透镜，TEM中为磁透镜，电子波长极短，且与物质作用遵从布拉格方程（λ=2dsinθ），产生衍射现象所以TEM具有高分辨率且有结构分析功能。

        以上就是铄思百小编通过网络整理的有关TEM原理的知识，如果有其他疑问或者测试需求，可以网络咨询铄思百检测实验室技术工程师。

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