XPS能够得到的信息有哪些

       X射线光电子能谱（XPS）又称化学分析用电子能谱，是利用单色X射线照射样品表面，作用后产生光电子，通过测量原子内层的电子结合能来推知样品中所含元素的种类，并通过分析结合能的化学位移，找到元素的价态变化或与电负性不同原子结合的证据。

从X射线光电子能谱仪能够得到的信息：

       1.    XPS可以从光电子的动能分析出其结合能，从结合能可以判定除H、He以外所有元素的种类。

       2.    XPS可以通过测定内壳层电子能级谱的化学位移来推知原子结合状态和电子分布状态。

       3.    可以测定元素相对含量的半定量分析。通过角分辨法及Ar离子剥离法可以提供元素深度分布信息。

       4.    线扫描或面扫描以得到线或面上的元素或化学态分布。

       5.    可进行样品的原位处理 AES：可进行样品表面的微区选点分析（包括点分析，线分析和面分析）。

       6.  化合物的结构。可以对内层电子结合能的化学位移精确测量，提供化学键和电荷分布方面的信息。

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