AFM测试常见的问题解答

1.测量比表面积时测量时间过长是样品的原因吗？在规定的时间内没有测量吗？

答案：测试时间与测试频率有关。测试扫描频率越大，扫描速度越快，使用时间越短，反之亦然。

2.测量二维mxene纳米片样品浓度的要求是什么？

答案：无固定值，比TEM浓度稍浓，通过观察容溶液的颜色确定，确定适当的超声、净置时间以保证分散效果，否则纳米片试样不均匀。

3.薄膜试验如何制样保证平整？

答案：薄膜应尽可能小，以避免贴片过程中起泡。

4. PFM一般用什么探针？

答案：导电探针就可以了，推荐SCM-Pit系列探针

5.用氮吹、干燥、冷冻干燥哪种方法好？

答案：氮气吹扫一般在干燥后，上述两种干燥方式差别不大。

6. 如何判断setpoint的设置是100%？

答案：根据选择的测试类型设置具体的setpoint，接触模式和峰值力敲击模式的setpoint与力的关系成正比，敲击模式的setpoint与力的关系成为抛物线关系，一般选择自由振幅的80%，自由振幅已知。

7. 如何测试单层石墨烯二维材料的厚度？

答案：DMF是溶剂，超声波超过半小时，静置10分钟，将液体滴入或旋涂于云母或硅片基底，适当温度干燥，氮气吹扫后即可测试。

8. afm能控制温度吗？

答案：AFM目前不能控制温度，需要定制温度控制系统。

9.粉末分散液滴到云母片上，云母片的尺寸是否小于200mm，如果是几微米左右可以测量？

答案：一般云母的直径是1cm，样品台的尺寸是200mm，实际上AFM的测量范围是很小的，用1cm左右大小的衬底完全符合测试要求。

10. 腐蚀性样品可以做afm吗？

答案：可以，但是要保证样品表面波动在微米以下。

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