蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma电镜

蔡司 Sigma 系列将场发射扫描电子显微镜 (FE-SEM) 技术与出色的用户体验相结合。构建您的成像和分析程序并提高生产力。从一套检测器选项中进行选择。进入*端成像领域：Sigma 300 提供的价格和性能，而 Sigma 500 的 EDS 几何结构提供分析性能。

灵活检测清晰图像

自动化并加快您的工作流程

执行高级分析显微镜

灵活检测清晰图像

使用*新的检测技术根据您的需求定制 Sigma，并对您的所有样品进行表征。

蔡司扫描电镜图像

三本精密仪器使用环形反向散射检测器 (aBSD) 表征成分、晶体学和表面形貌。它在所有真空条件下都能提供出色的低 kV 图像。受益于更高的灵敏度、更高的信噪比和更快的速度。

享受新一代的二次电子 (SE) 探测器。受益于 Sigma 在可变压力模式下的 C2D 和 VPSE 探测器：在低真空下工作，您可以获得对比度高达 85% 的清晰图像。

矿物矿石，碳酸镧磷酸盐粘合剂。Sigma 500，1 kV，Inlens Duo BSE 检测器左侧，Inlens SE 右侧。

通过 4 步工作流程控制 Sigma 的功能。受益于快速成像并节省培训时间——尤其是在多用户环境中。

首先，浏览您的样品，然后设置*佳成像条件。接下来，自动获取多个样本的图像，并在上下文中可视化您的结果。

SmartSEM Touch 将您的数据显示为交互式地图，以便您完全了解您的样品。

执行高级分析显微镜

结合扫描电子显微镜和元素分析：Sigma *流的 EDS 几何结构可提高您的分析效率，尤其是在光束敏感样品上。

以一半的探头电流和两倍的速度获取分析数据。

在您的 FE-SEM 中实现完整、无阴影的分析。使用 8.5 mm 的短分析工作距离和 35° 的起飞角，从中获益。

灵活的检测

Sigma 具有一套不同的检测器。使用*新的检测技术表征您的样品。使用 ETSE 和 Inlens 探测器获取高真空模式的地形、高分辨率信息。使用 VPSE 或 C2D 检测器在可变压力模式下获得清晰的图像。使用 aSTEM 检测器生成高分辨率透射图像。使用 aBSD 检测器研究成分和地形。

东莞三本精密仪器有限公司是一家专注于高端品牌测量仪器销售和服务的专业公司。

蔡司第一届经销商大会，三本得到华南区域授权代理商资格，应用服务中心成立。

在这里我们将为您提供产品销售及测量演示、操作培训、程序编制和检测服务。

如果您有产品需求，欢迎联系我们蔡司授权商-三本工业测量仪器http://www.zeissct.com/

http://www.saben.com.cn/