球差电镜和透射电镜的区别

        球差电镜和透射电镜的区别是什么？今天铄思百检测小编带大家详细了解一下吧

        差校正透射电镜(spherical aberration corrected Transmission Electron Microscope: ACTEM)随着纳米材料的兴起而进入普通研究者的视野。超高的分辨率配合诸多的分析组件使ACTEM成为深入研究纳米世界不可或缺的利器。材料学、生命科学、半导体制造、石油煤炭等研究领域的可靠助手。

一，什么是球差？

        100 kV的电子束的0.037埃，而普通TEM的电分辨率仅仅为0.8 nm。这主要是由TEM中磁透镜的像差造成的。 球差是由于电磁 透镜 中心区域和 边缘区域 对电磁波会聚能力不同而造成的。远轴电磁波通过透镜时被折射得比近轴电磁波要厉害得多，因而由同一物点散射的电磁波经过透镜后不交在一点上，而是在透镜相平面上变成了一个漫射圆斑。球差是限制透镜分辨本领zui主要的因素。

二，球差透射电镜（ACTEM）和普通透射电镜(TEM)的区别

        TEM中包含多个磁透镜：聚光镜、物镜、中间镜和投影镜等。球差是由于磁镜的构造不完美造成的，那么这些磁镜组都会产生球差。当我们矫正不同的磁透镜就有了不同种类的ACTEM。

        STEM为主的TEM，球差校正装置会安装在聚光镜位置，即为AC-STEM。校正器安装在物镜位置的即为AC-TEM。一台TEM上安装两个校正器的，就是所谓的双球差校正TEM。此外，由于校正器有电压限制，因此不同的型号的ACTEM有其对应的加速电压。

三，球差透射（ACTEM）的电镜的优势

        高分辨率：目前最高分辨率可达到0.06 nm，是普通透射的一个数量级。

四、球差透射电镜和透射电镜的测试能力区别

        球差透射电镜有TEM和STEM两种成像模式，在TEM模式中更多地用于形貌的观察，STEM模式常用于原子构象以及进行EDS，EELS成分线扫和mapping的测试，进行元素分析。由于球差校正透射电子显微镜不仅具有亚埃级的空间分辨率，而且兼具多种实验功能，因此可以在原子尺度内同时研究材料的晶体结构和对应的电子结构特征，从而理解样品的微观晶体结构与性能之间的关联，是研究材料构效关系的一种非常有效的手段，因而其在物理学、材料学和化学等学科领域具有非常广泛的应用。

        虽然现在ACTEM和ACSTEM正在“大众化”，但是并非一定要用这么高大上的装备。如果你想观察你的样品的原子级结构并希望知道原子的元素种类（例如纳米晶体催化剂等），ACSTEM将会是比较好的选择。如果你想观察样品的形貌和电子衍射图案或者样品在TEM中的原位反应，那么物镜校正的ACTEM将会是更好的选择。

五，球差电镜可以做哪些测试？

        球差电镜的工作方式有两种模式分别为TEM模式和STEM模式

1. TEM模式：更多进行形貌的观察。

2. STEM模式：得到原子构象，以及进行EDS,EELS成分线扫和mapping的测试，进行元素分析。

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