信号完整性测试-信号完整性分析-第三方检测
信号完整性
总线/接口测试: PCIE/SATA/DDR/HDMIVGA/DP/eDP/MIPI/LVDS/eMMC/SDIO/LPC/SPI/12C&SMBUS/HD-Link/12S/DMIC/USB2.0/3.0/LAN/ COM/PD/TBT
其他信号测试:System Clock/Power Sequence/Power Ripple&NoiselRESET/ PWRGD&Enable
IO Margin测试：DDR/ PCIE /USB RX/ SATA RX/CNVIo
信号完整性仿真:DDR/ eMMC /DP/eDP/PCIE/USB/HDMI/SATA/CIock/LAN /12C&SMBUS/SPI
LVDS即低电压差分信号，是一种低功耗、低误码率、低串扰和低辐射的差分信号技术，这种传输技术可以达到155Mbps以上，英文全称Low Voltage Differential Signaling;LVDS接口又称RS-644总线接口，是20世纪90年代才提出的一种数据传输和接口技术。
LVDS技术的核心是采用极低的电压摆幅高速差动传输数据，可以实现点对点或一点对多点的连接，其传输介质可以是铜质的PCB连线，也可以是平衡电缆。
LVDS由于其低功耗，带宽可扩展等特点，被广泛的采用在移动电子设备上，屏幕和摄像头支持的分辨率越来越高，信号速率越来越快，电路板越来越小，信号探测难度越来越大。
LVDS TX/RX信号完整性测试解决方案，内容概况为：
• LVDS技术及LVDS技术的特点
• LVDS信号完整性测试标准和挑战
• LVDS TX信号完整性测试解决方案
• LVDS RX信号完整性测试解决方案
• LVDS信号完整性测试案例
1LVDS技术及LVDS技术的特点
LVDS接口是美国国家半导体公司（NS)为克服以TTL电平方式传输宽带高码率数据时功耗大，电磁干扰大等缺点而研制的一种数字视频信号传输方式。由于其采用低压和低电流驱动方式，因此，实现了低噪声和低功耗。具体归纳为：
LVDS接口高速传输能力
LVDS接口低噪声
LVDS接口低功耗
LVDS接口抗干扰能力强
LVDS接口可扩展
LVDS接口应用广泛
图1.1 LVDS接口原理
图1.2 LVDS类型
图1.3 LVDS耦合和端接方式
图1.4 Mini-LVDS
图1.5 M-LVDS
图1.6 Clock VS Data
2LVDS信号完整性测试标准及挑战
2.1 LVDS物理层信号完整性测试标准：
• ANSI/TIA/EIA-644 (LVDS)
• IEEE 1596.3 SCI-LVDS
2.2 LVDS物理层信号完整性测试挑战：
• LVDS种类多
• 时钟恢复方式多
图2.1 LVDS和Mini-LVDS测试项目
3LVDS TX信号完整性测试解决方案
图3.1 LVDS TX信号测试设置DUT
图3.2 LVDS TX信号测试设置Date
图3.3 LVDS TX信号测试设置CLOCK
图3.4 LVDS TX信号测试设置 MASK AND CDR
图3.5 LVDS TX信号测试设置 眼图模板
4LVDS RX 信号完整性测试解决方案
图4.1 LVDS RX信号测试项目
图4.2 LVDS RX信号测试设置 Pattern Editor Plugin
图4.3 LVDS RX信号测试设置 Video Plugin
图4.4 LVDS RX信号测试环境
5LVDS 信号完整性测试案例
点位：从左往右Lane4-lane3-lane2-clk-lane1):
图5.1 LVDS测试样品及探棒测试连接
图5.2 LVDS测试环境
图5.3 测试眼图
图5.4 测试波形
6LVDS 信号完整性测试项目及规范
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