AFM制样要求及测试内容

之前铄思百小编介绍了AFM的原理，那么，就有很多小伙伴好奇，AFM的应用有哪些呢？以及AFM测试的样品需要做哪些处理呢？接下来就让我们来了解这些问题吧。

        AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是应用范围广，可用于表面观察、尺寸测定、表面粗糙测定、颗粒度解析、突起与凹坑的统计处理、成膜条件评价、保护层的尺寸台阶测定、层间绝缘膜的平整度评价、VCD涂层评价、定向薄膜的摩擦处理过程的评价、缺陷分析等。原子力显微镜为扫描探针显微镜家族的一员，具有纳米级的分辨能力，其操作容易简便，是目前研究纳米科技和材料分析的最重要的工具之一。

        AFM可得到高分辨率的表面形貌图像，AFM 对表面整体图像进行分析可得到样品表面的粗糙度、颗粒度、平均梯度、孔结构和孔径分布等参数，也可对样品的形貌进行丰富的三维模拟显示，使图像更适合于人的直观视觉。广泛应用于科研和工业界各领域，涵盖了聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，薄膜性能表征等领域的监测等各类科研和生产工作。

在铄思百检测做AFM检测时，可做如下样品类型及项目：

        可做纤维/粉末/溶液/薄膜/纳米片/生物蛋白：粗糙度、表面形貌、厚度、相图、弹性模量、力曲线、PFM（压电力显微镜）、KPFM（表面电势）、C-AFM（导电力显微镜）、PeakForce TUNA（导电力显微镜）、EFM（静电力显微镜）、MFM（磁力显微镜）、LFM（侧向力显微镜）等。

对样品有如下要求：

1，样品状态：可为粉末、块体、薄膜样品；

2，粉末样品：颗粒一般不超过5微米，提供20mg，液体不少于1ml，尺寸过大请提前咨询客户经理；

3，粉末/液体样品请务必备注好制样条件，包括分散液，超声时间及配制浓度；

4，薄膜或块状样品尺寸要求：长宽0.5-3cm之间，厚度0.1-1cm之间，表面粗糙度不超过5um，一定要标明测试面！

5，测试压电、表面电势的材料需要将样品制备在导电基底上，基底大小大于0.5*0.5cm。

6，AFM制样对样品导电与否没有要求，可以很平也可以不那么平，对表面光洁度有一定要求，测量范围比较广泛。

7，适用于多种环境，可在真空，空气和溶液中进行。

以上就是本次AFM的小知识啦，如果有更多问题，可以网络联系铄思百检测检测工程师，

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