常规涂层测厚仪进行涂层厚度检测原理说明

涂层测厚仪除了可以测量磁性金属基体和非磁性基体上的涂层，亦可以测量金属电镀的镀层测厚仪，因而，涂层测厚仪，通常也称为涂镀层测厚仪。

常规涂层测厚仪的原理

对测振外表面保护、装璜造成的覆盖层，如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等，在无关国jia和国际标准中称为覆层（coating）。

覆层厚度测量已成为加工工业、外表面工程品质检测的重要一环，是产品到达优等品质标准的必备要点。

覆层厚度的测量办法有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些办法中前五种是有损检测，测量方式繁琐，速度慢，多实用于抽样测验。

X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有喷射源，运用者必需恪守射线防护标准。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法合适镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

随着技术的日益提升，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多性能、高精度、适用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可到达1%，有了大幅度的提升。涂层测厚仪实用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研运用宽泛的测厚仪器。

涂层测厚仪采用无损办法既不毁坏覆层也不毁坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地实行。