老化测试主要有哪几类？-深圳欣同达

老化测试主要有哪几类？今天小编带大家来了解一下。

一、高温工作寿命（HTOL）：

通过加速热激活故障机制确定产品的可靠性。在偏差操作条件下，客户部件会受到高温的影响。在压力下，设备和设施通常会发出动态信号。典型的VCC是最大的工作电压。本试验用于预测长期故障率。所有测试样品必须在HTOL测试前通过最终电气测试。

二、HTSL测试：

测量设备对模拟存储环境的高温环境具有抵抗力。应力温度通常设定为12555°C或150°C，加速温度对样品的影响。在测试过程中，没有对设备施加偏压。

三、HAST测试：

高温湿度加速应力试验试验(HAST)加速了与85°C/85%相对湿度测试失效机制相同。典型的测试条件是1300°C压力与非冷凝/85%的相对湿度。外部保护材料(包装或密封)或金属导体通过外部保护材料与金属导体之间的界面。在高加速温湿度应力试验前，对表面安装装置的样品进行预处理和最终电气试验。

四、CSP可靠性测试：

为了适应薄、小、低功耗的产品，可靠性识别和系统小型化，特别是在消费电子市场，正在促进先进包装技术的发展。这增加了芯片级包装(CSP)这些包装的尺寸与核心基本相同。为了支持他们进入的电子设备，CSP的基板越来越薄。不幸的是，在处理CSP的过程中，这种吸引人的尺寸优势变得脆弱和脆弱。由于处理或插入，这可能会导致破裂、开裂和球损伤。

2000年以来，在老化座_IC老化耗材、测试夹具、测试夹具、测试架官方商城的实际应用过程中，几乎可以满足市场上各种包装类型芯片老化测试的要求。

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