1.由于实验需要,购买了一批掺杂浓度约为1.0x10的15次方cm的-3次方的n型硅片,请设计测试实验(涵盖用什么测试方法、如何制样、制样过程的关键步骤),分析该硅片具体的半导体参数(半导体类型、载流子浓度、迁移率、电导率、扩散系数),并阐述影响其迁移率的因素。