常温固态硬盘BIT老化箱

编辑 | 环仪仪器

一、产品简介：

常温BIT测试老化柜是用于固态硬盘（SSD）常温读写测试（BurnInTest，BIT）的试验设备，老化柜可以提供固态硬盘运行所需要的稳定温度，为BIT测试提供保障。

二、满足标准：

YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范

JEDEC 218

三、技术参数：

四、产品特点：

1、根据不同的要求提供测试电脑配置。

2、机柜采用1.0冷轧钢板，外部烤漆处理，坚实耐用，美观大方。

3、每层电脑采用抽屉式摆放，方便电脑散热和后期维护。

4、机柜顶部配有220V散热风扇，背板为高密度六角单开网孔门，通风率≥75%，门和侧板为可拆卸式结构，保证测试电脑运行环境良好。

5、机柜底部有万向轮和固定脚杯，方便移动设备。

五、测试要求：

SSD测试在实验室常温40℃的环境下进行的BIT测试，根据JEDEC 218的要求，整个测试过程所需要的测试时长为1000h，在刚启动开始测试时，BMC通过MI协议获取的SSD的NAND温度值为40℃左右，当测试时长达到1000小时，NVME SSD就完成了在常温环境下进行BIT的测试。

如有常温BIT测试老化柜的选型疑问，可以访问“环仪仪器”官网，咨询相关技术人员。