X射线荧光光谱仪在铁矿石中的应用

铁矿石作为一种含铁量极高的矿物资源，其也是生产钢铁的主要原料之一，为更好地对铁矿石进行利用，就需要对铁矿石的主次成分含量进行准确的测定。

目前铁矿石的主、次成分的检测主要采用化学分析法，但是化学分析方法需要用到大量的化学试剂，分析时间长，容易出现误差，检测结果的准确度和精密度不高，并且对操作人员的专业素质要求比较高。

X射线荧光光谱仪可以克服化学分析方法在上述各方面的不足，是一种快速、高效、准确的分析方法。

目前测铁矿石成分的X射线荧光光谱仪主要有压片法和熔片法，压片法具有操作简单、分析速度快等优势，但是测量结果容易受到粒度效应和矿物效应的影响，熔片法可以克服压片法的不足，具有很高的精密度。

本文介绍日本理学（型号：ZSX Primus IV） X射线荧光光谱仪，采用熔融制样方法分析铁矿石中主要元素，其中测定铁矿石TFe含量时，选择Co2O3为内标元素。

ZSX Primus IV的特点

1.上照射方式适合粉末样品分析——可以确保X光管不会受到样品微粉的污染和损坏 ；

2. 超薄铍窗-30μm的X射线光管，铍窗厚度越薄，灵敏度越高 ；

3. 转盘式重力自动下降方式，双泵双真空室系统，APC机构保证系统真空度稳定，以上几个配置对分析的稳定性非常重要 ；

4.  标配样品自旋机构——消除样品偏析，和移动机构—可将每个测量都位置平移到相同的X光最强处。

制样方式：

采用GB/T 6730.62- 2005标准方法规定的熔融方法制样，以消除铁矿石样品的粒度效应和矿物效应。

测试条件

测试精密度

选取一个铁矿石送检样品按本方法制成10个玻璃样片，在优化的条件下测定，铁矿石精密度测量数据见表2。由精密度数据可以看出，各成分测定结果的相对标准偏差在 0.13%~7.18% 之间，方法精密度较好。