XRD全称X射线衍射（X-RayDiffraction）,利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。利用谱图信息不仅可以实现常规显微镜的确定物相，并拥有“透视眼”来看晶体内部是否存在缺陷（位错）和晶格缺陷等。前面了解了物相分析以及晶粒大小的计算，今天我们来了解下其他的应用。

XRD的应用之定量分析

        对于多相样品，当通过定性相分析确定了样品中所存在的物相后，就需要更深入的了解各相的相对百分含量。目前定量方法有：外标法、内标法、标准加入法、RIR值法，其中RIR值法最为简单方便。

        RIR法定量是利用各种纯物质与α三氧化二铝按照重量比1:1混合，测试二者强度的比值K，制作成一个数据库，在日常多组分混合物定量分析时，将K值引入利用计算机拟合计算各物相组分含量。

        需要说明的是此定量结果为半定量，当然在具体样品分析时，可以将ICP-OES、碳硫氧氮等元素分析方法结合起来，提高定量准确性。若样品又含有有机物，也可将FTIR、TGA、GC-MS结合起来进行定量分析。

        测试样品：未知化合物成分分析、某化合物中不同物相定量分析（如二氧化钛中的锐钛矿物相和金红石物相含量）、辅助失效分析、辅助矿物分析、辅助高分子材料定量分析。

XRD的应用之残余应力测试

残余应力是材料及其制品内部存在的一种内应力，是指产生应力的各种因素撤销时，由于不均匀的塑性变形和不均匀相变的影响，在物体内部依然存在并自身保持平衡的应力。通常残余应力可分为宏观应力、微观应力和点阵静畸变应力三种，分别称为第一类应力、第二类应力和第三类应力。应力对材料的影响如下：

有利的应力：材料表面淬火，喷丸，渗碳处理，强化产品表面，产生宏观内应力可起到强化作用。

不利的应力：由于工艺条件不当，过度淬火产生过大的宏观内应力，造成部件开裂，性能不稳定，尺寸改变。

X射线衍射测试应力方法又可分为：测定衍射线位移，可以测定第一类应力；通过衍射谱线变宽，可以测定第二类应力；根据衍射线的强度下降，可以测定第三类应力。

目前实验室残余应力测试采用sin2ψ法，测量同一晶面（hkl）在不同的ψ角度下的θψ。取其中ψ=0、0、15、30、45、45六点或及以上，测θψ，绘制2θψ~sin2ψ关系曲线，从其斜率得到Μ，再乘以应力常数K，即可得到应力值。

目前现有设备适宜检测对象：形状合适的有色金属材料、尽可能无织构、无择优取向。

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