开尔文测试座有哪些特点？-欣同达

开尔文测试座用于开尔文四线测试(四端子测试、四线测试、四点探头法)，用于芯片的快速验证、测试和老化，适用于SOP包装的模拟电路测试和SOP、PSOP、QSOP、SSOP、TSSOP等封装检测，工作温度为-40-140度，适用于间隔0.4mm-1.27mm的商品，其使用寿命超过30万次。

用于开尔文测试座SOP包装模拟电路测试，电流测试值更准确。SOP包装的每个针角触摸2点。转接模块可根据客户要求设计，也可根据客户需求定制PCB板。其他包装，如QFN或DFN，也可以定制开尔文测试座。

深圳市欣同达科技有限公司成立于2016年,是集研发.生产.销售为一体的高新技术企业。专注研发生产:芯片测试座,老化座,ATE测试座,烧录座,客制化Socket,开尔文测试座,ic测试架。适用于：BGA.QNF.DFN.QFP.SOP.LGA.等封装测试插座。