XRF对样品制备的要求

        XRF用的是物理原理来检测物质的元素，可进行定性和定量分析。即通过X射线穿透原子内部电子，由外层电子补给产生特征X射线，根据元素特征X射线的强度，即可获得各元素的含量信息。这就是X射线荧光分析的基本原理。它只能测元素而不能测化合物。

        在《X射线荧光光谱分析》（吉昂等编著）一书中对样品制备的定义：样品一般需要通过制样的步骤，以便得到一种能表征样品的整体组分并为仪器测试的试样。试样应具备一定尺寸和厚度，表面平整，可放入仪器专用的样品盒，同时要求制样过程具有良好的重现性。

样品制备要求：

有代表性。XRF分析试样的样品量一般是比较大的，相对于其他分析方法，有较好的代表性。

有一定尺寸和厚度。上节讲座中讲到了样品的厚度问题，所分析的样品的厚度最好能达到“无限厚”。

表面平整。减小样品的颗粒效应。

良好的重现性。

下面铄思百检测小编和大家说一下XRF的制样要求：

粉末样品的制备方法

XRF可以分析的样品的物理形态可以是：固体(粉末、块样)、液体(水、油、泥浆等)，不分析气体。

XRF分析技术的最大特点之一是：可以直接测量固体。固体样品是XRF主要的分析类型。

XRF分析的固体样品主要有：矿物、岩石、土壤等天然物质，以及水泥、炉渣、陶瓷、玻璃等工业产品。很多固体样品是不均匀的，需要研磨成粉末来测量。

粉末样品的制备方法主要有3种：

1 直接测量

2 压片制样

3 熔融制样

压片制样的要求:

对于压片制样，一般要求样品的细度小于200目；粉末样品，应该是干样；制备好的压片，要结实，表面不能有裂纹、起层；切记将压片样品表面的浮尘吹掉。

以上就是有关XRF制样要求的介绍，如果有测试需求可以联系铄思百检测，

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