欢迎光临散文网 会员登陆 & 注册

TEM测试原理

2022-07-21 16:13 作者:bili_74204057874  | 我要投稿

在制备透射电子显微镜(TEM测试)薄膜样品时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,大多数同学没有太好的处理薄膜样品的方法,针对此,科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

TEM工作原理

 

透射电镜,通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源。

 

热阴极发射的电子,在阳极加速电压的作用下,高速穿过阳极孔,然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。

 

具有一定能量的电子束与样品发生作用,产生反映样品微区厚度、平均原子序数、晶体结构或位向差别的多种信息。

 

透过样品的电子束强度(取决于上述信息),经过物镜聚焦放大在其像平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像,经过中间镜和投影镜进一步放大,在荧光屏上得到三级放大的最终电子图像,还可将其记录在电子感光板或胶卷上。

 

透镜电镜和普通光学显微镜的光路是相似的。

 

以上就是科学指南针检测平台对网络上tem相关资料的整理如有测试需求,可以和科学指南针联系,我们会给与您最准确的数据和最好的服务体验,希望可以在大家的科研路上有所帮助。

 

免责声明:部分文章整合自网络,因内容庞杂无法联系到全部作者,如有侵权,请联系删除,我们会在第一时间予以答复,万分感谢。


关于TEM测试,今天就分享到这里。如果内容对你有帮助,希望大家不要吝啬点个赞哦,我们会继续给大家输出更多优质内容~

最后,祝大家科研顺利!如果你想和更多科研工作者学习探讨,可以扫码关注下哦~


TEM测试原理的评论 (共 条)

分享到微博请遵守国家法律