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XPS测试常见问题(四)

2022-11-24 17:47 作者:sousepad材料检测  | 我要投稿
  1. 什么时候需要进行全谱分析(XPS survey)?全谱分析的目的是什么?

    全谱分析一般用来说明样品中是否存在某种元素。比较极端的,对于某一化学成分完全未知的样品,可以通过XPS全谱分析来确定样品中含有哪些元素(H和He除外)。全谱分析主要看峰的有无,进而确定是否存在该元素。


  2. 全谱分析有何不足之处?

    全谱分析所得到的信号比较粗糙,只是对元素进行粗略的扫描,确定元素有无以及大致位置。对于含量较低的元素而言,信噪比很差,不能得到非常精细的谱图。通常,全谱分析只能得到表面组成信息,得不到准确的元素化学态和分子结构信息等。


  3. 所测窄谱元素,含量比为啥跟预期不符?

    这种问题可能有好几种情况,首先可能是样品表面被污染,检测到了污染物的成分,就与预期的元素不符合,也有可能是样品分布不均匀导致测试的范围中没有测到某个元素,导致了测试过程中出现于预期不符合的情况,XPS是半定量分析,和元素的实际含量会有出入,数据代表的是样品表面的元素分布,并不代表材料整体的性能。


  4. XPS测出来的数据使用前有必要平滑处理么?如果平滑的话会不会造成某些特征峰的减弱甚至消失呢?那么平滑几次合适呢?

    首先不建议进行平滑处理,因为平滑处理可能会导致谱图失真,例如谱峰强度或形状发生变化。如果发现谱图信噪很差,建议调整测试参数(如提高Pass energy或者增加测试时间等)来提高信噪比。


  5. 问XPS半定量处理时,元素测试了不同轨道的谱图,定量以哪个为准?

    定量是以元素的特征轨道谱图为准,如果存在多个轨道,切忌重复计算;若不同元素间轨道有重合,一般需要扫一下元素的非特征轨道来计算含量。


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