平板探测器和线阵探测器有哪些不同
平板探测器和线阵探测器是无损检测中常用的两种X射线探测器。它们在结构和工作原理上有一些明显的不同点：
1. 结构：平板探测器通常由较大的单个探测器模块组成，可以覆盖较大的检测面积。而线阵探测器是由多个排列在一条线上的小型探测器组成，形成一个线性阵列。
2. 探测方式：平板探测器采用全像式（全面辐射）探测，X射线从不同方向通过被检测物体，探测器可以接收整个范围内的辐射。而线阵探测器是采用逐点扫描（点射线）探测，线阵中的探测器逐个扫描被检测物体，形成点射线的方式进行检测。
3. 分辨率：由于其较大的探测面积，平板探测器通常具有较高的空间分辨率，可以提供更细微的检测细节。线阵探测器虽然相对分辨率较低，但由于可以进行逐点扫描，对于有限空间中的局部区域进行更精确的检测。
4. 适应性：平板探测器适用于大面积的无损检测，可以有效检测较大和均匀分布的缺陷。而线阵探测器适用于对细长物体、复杂几何形状或限制空间内的检测，能够提供更高的灵活性和多样性。需要注意的是，选择平板探测器还是线阵探测器取决于具体的应用需求和被检测物体的特性。在实际应用中，不同的探测器类型可能会相互补充，以获得更全面和准确的无损检测结果。
