背景介绍

BIST(Build-in-Self-Test)一般包括测试生成电路，测试控制电路，输出响应分析器。测试生成电路所产生的pattern在时钟作用下加载到被测电路上；测试控制电路产生测试控制信号；输出响应分析器分析响应的数据结果。

为了减少测试响应数据所用的空间及易于分析，输出响应分析器常常把测试响应数据压缩成签名(signature)，将生成的signature与存储的正确signature作比较，最后得到结果，对电路通过(Pass)或者失败(Fail)进行判定。

一个好的输出响应分析器需要考虑四个方面：signature尽可能小；通过或失败的判定准确；电路面积小；支持诊断。

要能更准确地判定通过或失败，就要求混叠概率(PAL)足够低。

混叠的定义

什么时候发生混叠(aliasing)呢？当错误输出的签名等于正确的输出的signature的时候就会发生混叠。

混叠的影响

左图中的点代表电路的输出，右图中的点代表经过压缩后的signature。输出空间比signature空间要大，输出响应分析器执行多对一的映射。左图电路中的正确的输出被压缩成好的签名(gold signature)，电路中的错误的输出被压缩成坏的签名(bad signature)。bad signature和gold signature是不同的，所以很容易区分两者。即使有很多错误的输出映射到同一个bad signature，这也不是混叠，因为可以判断出它们是坏芯片。

然而，对于电路中有的错误的输出，经过压缩后的signature和gold signature是相同的，这就是混叠。因为这时我们无法判断这个电路是好的还是坏的，这会导致故障覆盖率的损失，这就意味着有故障的电路通过了测试，会发生测试逃逸。

混叠取决于什么

混叠取决于许多因素：CUT(被测电路)、故障、测试pattern、ORA(输出响应分析器)结构等。混叠的精确分析是困难的，因此只做概率分析就足够了。

怎样计算混叠率

PAL：probability of aliasing（混叠概率），等于产生gold signature的错误输出的数量与总的错误输出数量的比值。它可以衡量混叠发生的概率，好的ORA需要较低的PAL。

看一个关于PAL的计算的例子

假设这个电路有两个输出，正确的输出是"01"，用异或门作为一个ORA，则这个电路的gold signature是什么？并计算这个ORA的PAL。

这个电路有四种可能的输出：分别是"00"、"01"、"10"、"11"，正确的输出经过异或之后，得到gold signature是1。

错误的输出总数是3("00"、"10"、"11")，错误输出中得到gold signature的数量是1("10")。

根据公式计算