Keithley吉时利4200-SCS半导体特性分析系统

特征：

• 运行 Clarius SWon Win7 嵌入式计算机的直观、触摸屏界面。

• 独特的可选远程前置放大器将 SMU 的分辨率扩展至 10 aA 

• CV 仪器使 CV 测量像 DC IV 一样简单

• 用于高级半导体测试的脉冲和脉冲 IV 功能

• 示波器卡提供集成的示波器和脉冲测量功能

• 独立的 PC 提供快速的测试设置、强大的数据分析、图形和打印以及测试结果的板载大容量存储。  

• 配备嵌入式测量专业知识和数百个即用型应用测试，

• 用于点击式可靠性测试的内置压力/测量、循环和数据分析，包括五个符合 JEDEC 标准的样品测试

• 集成支持各种 LCR 仪表、Keithley 开关矩阵配置以及 Keithley 3400 系列和 Agilent 81110 脉冲发生器

• 包括用于领先分析探针的软件驱动程序

吉时利 4200A-SCS 半导体参数分析仪表征系统执行实验室级 DC 和脉冲器件表征、实时绘图和分析，具有高精度和亚 fem 到安培的分辨率。Keithley 4200A-SCS 提供同步电流-电压 (IV)、电容-电压 (CV) 和超快脉冲 IV 测量。

Keithley 4200A-SCS 参数分析仪可将表征复杂性和测试设置降低多达 50%，提供清晰、不折不扣的测量和分析能力。此外，业界首创的嵌入式测量专业知识可提供测试指导，让您对结果充满信心。