【活动预告】DLTS用户交流会2023

12月6日，北京时间21：00

深能级瞬态光谱检测（DLTS）

常用于研究半导体中缺陷的浓度和载流子结合能，是表征所有形式半导体的关键工具。 作为DLTS应用的先驱者，苏黎世仪器公司希望能将用户聚集在一起，共享最佳实践技巧与经验，帮助大家实现交流互动。

演讲嘉宾

Dr. Piotr Kruszewski ：

波兰科学院高压物理研究所的助理教授，在波兰科学院物理研究所取得固态物理学博士学位，又在普罗旺斯材料微电子纳米科学研究所做了2年博士后研究。

报告主题：

Deep traps in GaN-based materials studied by DLTS-related techniques

Dr. Teimuraz Mchedlidze：

弗赖贝格工业大学应用物理研究所，主要研究半导体中各种缺陷和纳米结构的研究、工程和应用以及改进现有的材料表征方法并发明新的方法，有着30多年的经验。

报告主题：

Pros for using MFIA in deep-level transient spectroscopy studies

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