写在开头：“氧含量的确定在铜氧超导体中一直是一个麻烦，大家都妥协于认定用氧含量不变的La-Sr-Cu-O定出来的相图里的超导Dome作为基准。即Tc-p(holes/CuO2)的标准曲线。但要注意，在Dome的顶点之下，一个Tc有两个p与之对应，故这里需要一些额外的实验手段来确定是Over doping还是Under doping.”

先来看一张图，这是YBCO确定氧含量δ的方式，横轴是XRD等可测的lattice constant。而纵轴是空穴掺杂的浓度p，假设Y, Ba,Cu 的价态稳定，则有氧的含量和p唯一对应。

前文提到，既然“一旦p确定了，氧含量就确定了”。那么必然引入p如何确定的问题。p的确定就如“写在开头”所说的那样，用LSCO的标准Tc-p来测Tc定p。

但是有些样品Tc很难测量，比如薄膜样品，电输运很难测量，磁性测量也很困难，这个时候这种生硬的Tc-p方法也面临失效。这个时候如何测量呢？

• 一个方法是用ARPES看EDC的转变宽度来定Tc，从而让Tc-p方法重新有效；

• 另外比如对于铁基样品，用ARPES测量费米面大小，也可以由此来确定载流子浓度，即确定p。

总之，铜氧超导等非常规超导体的掺杂浓度确定面临困难，具体而言，和掺杂息息相关的铜氧超导氧含量的确定问题更是困难重重。