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TEM测试衬度原理

2022-07-20 11:35 作者:bili_74204057874  | 我要投稿

在制备透射电子显微镜(TEM测试)薄膜样品时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,大多数同学没有太好的处理薄膜样品的方法,针对此,科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;

 

透射电镜

 

晶体结构可以通过高分辨率透射电子显微镜来研究,这种技术也被称为相衬显微技术。当使用场发射电子源的时候,观测图像通过由电子与样品相互作用导致的电子波相位的差别重构得出。然而由于图像还依赖于射在屏幕上的电子的数量,对相衬图像的识别更加复杂。

 

非晶样品透射电子显微图象衬度是由于样品不同微区间存在的原子序数或厚度的差异而形成的,即质量厚度衬度(质量厚度定义为试样下表面单位面积以上柱体中的质量),也叫质厚衬度。质厚衬度适用于对复型膜试样电子图象作出解释。质量厚度数值较大的,对电子的吸收散射作用强,使电子散射到光栏以外的要多,对应较暗的衬度。质量厚度数值小的,对应较亮的衬度。

 

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