ICP-MS常见测试问题(四)
一、为何在熄火时分子泵有时会停,是否因为Ar气的压力过大造成的?
1.有可能是仪器自动保护控制的;
2.正常熄火时不会停,从analysis到stand by之间机械泵和涡轮泵也是不会停的;
3.真空系统需要维护;
4.可能是滑动阀关闭时动作太慢而引起的,或是哪里漏气引起的;
5.应该清洗真空锥。
二、ICP-MS中谈到的Plasmalok™专利技术,消除锥口二次电弧放电是怎么样的?
在李冰老师翻译的<<等离子体质谱手册>>中有介绍, 一般的ICP-MS的ICP的RF的工作线圈是靠近锥的一端是接地的,另一端是大功率的RF,而Plasmalok是工作线圈的中间接地,两头一边是+RF,另一边是-RF, 它的好处是等离子体电位比较低,但是也有缺点,那就是由于线圈靠近锥的部分仍有高压,而锥是接地的,因而两者之间容易引起放电,我见过PE的用户的线圈,靠近锥的一端是黑的,另一端是紫铜的颜色,现在热电和Agilent在工作线圈和炬管之间加了一个金属屏蔽圈,并且使其接地,也是为了降低等离子体电位,并且不会引起放电,我们的仪器就是这种方式.
三、是否可以用来分析钼原矿及尾矿中钼的含量?
1.不可以,因为钼含量太高了;
2.不可以,因质谱仪器适合测量痕量组分,高含量可使雾化及四极杆等整个系统污染,造成测量空白太高,以后无法使用。
3.过分地稀释也可以测量,但无法满足测试质量要求的需要。
四、我用的是ICP-IES做土壤中金属的含量。预处理我是用热电的微波消解仪,我先是把土壤风干,然后用磨成粉,再过筛,最后大约称取0.2g左右,消解后无固体,但是检测结果两个平行样很差,相对偏差有时候有200%。
1.如果所有的元素含量都不好那说明是制样或消解过程有问题,如果个别的如铁的可能是污染引起的;
2.可能是样品不均匀;
3.在之前进行过的测试中,用100目的土壤称取0.25XXg,微波消解平行性非常好。但不同的批次之间有差别,要很仔细才能做到重现性很好;
4.微波消解很可能不平行,不知道具体那些元素不好,是全部偏离还是部分偏离。
五、我用ICP-MS测食品样品效果不好,怎样才能很好的应用?测食品样品中砷、铅、隔、铜、硒等,他们之间有互相干扰么?
1.砷\硒要用CCT(或DRC)比较好,另外样品制备也比较讲究;
2.你的标准曲线如何(r值)?如果样品中Cu的含量比较高,可以考虑Cu65测量。As应该考虑ArCl75的干扰,最好用CCT(或DRC)。另外在样品消化过程中Se容易跑;
3.As75要注意ArCl的干扰,如果CL很高的话用数学校正发比较困难;
4.Se82灵敏度较低,As75有干扰,7500a没有碰撞反应池,这俩元素不好测,可以考虑通过原子荧光来测试。其他元素没有问题;
5.样品处理时用微波消解器,硝酸加过氧化氢,高压下消解。Se和As最好用氢化物发生器进样-ICPAES或AFS测试。ICP-MS测这两个元素是影响因素比较多。
六、一般资料中都说不能在Cl含量高溶液中测As,但我做过紫菜中的As,稀释50倍测定的结果和稀释前完全吻合,用标准加入法测定也是一样的结果,但结果与AFS的差很大,有没有大虾能解决这个问题。Cl的浓度要多大时才会对测定有影响?
1.稀释在这里应该是没有作用的。因为Cl和As同步稀释。如果写了校正方程,Cl干扰应该可以被校正。建议估计一下紫菜中氯含量,配置相当浓度的盐酸溶液(无砷),看看在75有多少计数,相当多少量的砷,就可以估计出Cl的影响了;
2.还可以采用CCT技术来消除CL的干扰, 效果很好,其中CCT是碰撞池技术。是通过引入He、H2等混合气,消除在ICP-MS测定As-75,Se-80等时由于ArCl-75,Ar2-80的多原子干扰。
3.会有ArCl干扰。用动态反映池可以消除。因此测试时通常采用硝酸体系,尽量避免盐酸体系。紫菜中的As,如果做的是总量的测试,可以用溶剂萃取,做进一步的形态分析。紫菜中的As含量还是很高的。
七、在使用HF溶样的情况下能否测量其中的痕量硅?比如说氧化钽。
1.比较难,如果使用高纯氩,并且溶样时不用硝酸,可能好一些;
2.第一,测Si时溶样加HF一定要小心Si形成SiF4跑了;
第二,尽量避免加HNO3,因为其中的N有干扰;
第三,可以试试用碱熔。
3.推荐使用偏硼酸锂。
4.碱熔空白较高,可用HF熔解,水浴低温下加热,别超过60度。
5.如果做的是半导体测试,这个要求会比较高,用半导体级别的硝酸和氢氟酸体系可以解决问题,都不是难容的东西,但是你的仪器要用聚四氟乙烯的体系;若用碰撞池作低含量的硅没有问题,高含量的硅不带ORS的仪器也可测试。
总结
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