AFM测试常见问题（二）

1.AFM和MFM都可以出形貌图，这两种有什么区别？以哪个为准？

答：AFM出的图是形貌图，MFM出的图是抬起模式相图也就是磁畴分布图，在分析相图时需要对比形貌图，分析两者之间的差异从而得到磁分布的信息。

2. AFM可以分析材料的亲疏水性吗？如何判断？

答：可以分析，需要用液下模式。

3.样品导电性不好，需要喷金吗？

答：AFM对样品表面的导电性没有要求，可以测导电的和不导电的。

4.测量样品起伏度有极限值吗？

答：有极限值，最好1微米之内，5微米以内根据样品性质用轻敲模式扫描时降低扫描1速度可以实现，大于5微米的样品不建议使用AFM进行测试。

5. 样品尺寸较大，微米级的可以测吗？检测有必要吗？

答：样品尺寸横向大小微米级的可以使用AFM测试，根据你想得到的材料信息来判断有没有检测的必要，如果微米级起伏根据第4条回答来判断。

6.AFM力曲线中位移-力曲线和距离-力曲线如何转化？转化过程中需要注意哪些细节？

答：F-Z转换成F-D曲线可以在分析软件中修改，将display mode改为Force vs sep就可以直接转换。

7.样品是粉末，疏松度十分疏松，测量时，会不会因为粉末疏松，测不了啊？

答：一般粉末样品需要分散到硅片或云母表面测试。

8.测量时，探针会不会将表面形貌破坏啊？

答：样品较软时采用峰值力轻敲模式扫描，将力设置小一些就不会对表面形貌造成破坏。

9.磁学MFM测量探针的镀层是Co的话，Co易氧化，如何保存？

答：一般是Co-Cr的镀层，不会被氧化，没有特殊保存要求。

10.AFM扫描过程中，力曲线反应的是什么物理图像？

答：力曲线反应的是样品与探针之间的作用力。

11.MESP针最大磁场可以加到多大？

答：MESP的探针矫顽力在400Oe，测试的样品磁性较强时建议使用高矫顽力的探针或者低磁矩探针。

12.有镀层的针会不会更粗一些？

答：不会，一般探针针尖在2nm，镀层可以镀的厚度很薄，可以忽略。

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