安捷伦4155A 4155B 4155C 4156A 4156B 4156C 半导体参数分析仪

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4156B 是安捷伦的半导体参数分析仪。半导体参数分析仪是用于各种测量功能的多合一工具。半导体参数分析仪可以测量和分析多种电子设备、材料、有源或无源元件、半导体或任何其他类型的电子设备的电气特性。工程师使用这台测试设备来监测不同类型设备中的电流和电压响应。附加的功能：

高分辨率/准确度和宽范围。I：1 fA 至 1 A（20 fA 偏移精度），V：1μV 至 200 V

采用直流或脉冲模式的全自动 IV 扫描测量，可扩展至 6 个 SMU

同步应力/测量功能，两个高压脉冲发生器单元 (±40 V)

时域测量：60μs – 可变间隔，最多 10,001 个点

易于使用：类似于曲线跟踪器的旋钮扫描，自动分析功能

自动化：内置 HP Instrument BASIC、触发 I/O 功能

设置测量和/或压力条件

控制测量和/或压力执行

执行算术计算

在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果

执行图形分析

存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据

转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出

使用内置的 HP Instrument BASIC 执行测量和分析

自检、自动校准

Agilent HP 4156B 是下一代精密半导体参数分析仪。您将获得最好的数字扫描参数分析仪、可靠性测试仪、功能强大的故障分析工具和自动进货检测站，所有这些都集成在一台仪器中。

   这个新系列经过明确设计，旨在为评估您的亚微米几何器件提供前所未有的精度和功能。使用一台灵活的仪器，您可以从材料评估和器件表征一直到最终封装部件检查和现场故障分析，提高您的半导体质量。

较高的低电流、低电压分辨率和内置准静态CV测量能力，4156B还为以后和其他的测量仪器的扩展使用提供了坚实的基础。4156B是基于PC的参数分析和表征的解决方案，标准配置包括一个参数分析仪，Agilent I/CV 3.0 Lite自动测试软件， Windows XP Professional的操作系统。I/CV 3.0 Lite软件可以提供一个图形操作界面，具有强大的分析工具，探针台驱动，和自动测试工具特性· 4156B提供4个内置的高分辨率的源/监控单元（HPSMUs），两个电压源单元（VSUs）和两个电压监控单元（VMUs）· 1 fA 和0.2 uV的测试精度可满足开发新工技术和评价材料· 全Kelvin，每个HRSMU有激励源、感应和接地端· 完成准静态的电容对电压测试· 自动提取处理参数而不需要人工操作屏幕光标· 用极低泄漏的SMUs测量泄露特性· 用集成的脉冲发生器和选择开关自动完成器件表征· 用内置的应力模式完成晶片的可靠性测试· 用图形用户界面完成点击”测试· 基于Windows环境的图形数据分析能力· 旋钮扫描功能可以快速检验探针是否接触正常· 待机模式不需要外部电源· 触发模式可以同步AC/DC测试。

产品概述

Agilent 4156B / HP 4156B 精密半导体参数分析仪是用于器件表征的高精度单元。4156B 卓越的低电流和低电压分辨率以及内置的准静态 CV 测量能力为未来与其他测量仪器的扩展奠定了坚实的基础。该装置配有四个电源/监控器单元、两个电压监控器单元和两个电压源单元

HRSMU：高分辨率 SMU（1fA/2mV 至 100mA/100V）

设置测量和/或压力条件

控制测量和/或压力执行

执行算术计算

在 LCD 显示屏上显示测量和计算结果

执行图形分析

转储到打印机或绘图仪以进行硬拷贝输出

自检、自动校准

使用内置 HP Instrument B 进行测量和分析

四个内置高分辨率源/监视器单元、两个电压源单元和两个电压监视器单元 ASIC

存储和调用测量设置，以及测量和图形显示数据