UPS测试样品的要求

紫外光电子能谱（Ultravioletphotoelectron spectroscopy, UPS）用的是紫外光激发样品表面，从而使得样品表面出射光电子。He灯（HeI激光能量为21.21 eV, He II 为40.82 eV），同步辐射光源由于能量连续可调，也可以作为真空紫外光源。与XPS相比，紫外光能量较低，因而出射光电子大多来自价电子，很少用于定量分析。但是，价电子一般参与化学成键作用，因此UPS特别适合研究成键作用。同时，UPS还能提供固体功函数，能带结构等信息。

那么，在进行UPS测试时，样品有些什么要求呢，跟着铄思百检测小编一起来看看吧。

1、样品最好是新鲜干燥的薄膜、块体材料，表面平整无污染，尺寸必须大于5*5mm-小于10*10mm左右，厚度小于2mm。UPS的光斑大小3mmX3mm,样品尺寸不符合要求可能导致收集到样品托或者其他位置的信息。

2、UPS测试表面1-2nm信息，表面吸附的碳氧会影响测试结果，建议暴露空气中的样品选择用离子源清洁后测试，数据更加准确。

2、如果使用旋涂法制备样品要求是基材材质为ITO、FTO、单晶硅片等半导体材料，尺寸必须大于5*5mm-小于等于10*10mm左右，厚度小于2mm，涂完膜干燥后能看到薄薄一层样品即可。

3、粉末样品需要制样，粉末颗粒直径最好在1万目以下，摸起来类似面粉，越细越好。使用压片制样或者旋涂法制样，需要制备1cmX1cm的薄片，请提供2ml体积的样品量。若压片样品的性质发生变化，不建议测试。

4、如果测试目的是功函数，要求样品的导电性比较良好，电阻小于3千欧。

5、粉末样品如非必要不建议测试。

*针对导体，电阻<3kΩ半导体才可以加偏压得到二次电子截止边计算功函数。3kΩ<电阻<10MΩ半导体看样品有时有信号，有时没有；3kΩ<电阻<10MΩ半导体和 绝缘体只可以开中和得到价带谱的数据，分析价带顶，价带结构一般需要模拟计算辅助分析。UPS数据分析不出来带隙。

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