AFM常见问题解答（一）

在做AFM测试时，武汉铄思百检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到，好多同学对此项目不太了解，针对此，武汉铄思百检测平台团队组织相关同事对afm测试进行问题收集并整理，希望可以帮助到科研圈的伙伴们。

Q1；什么时候才会考虑I gain/P gain/setpoint这些参数？

Setpoint与力有关，接触模式和峰值力轻敲模式下setpoint与力成正比关系，如果探针接触不到表面出现形貌差异较大时需要增大setpoint，轻敲模式力与setpoint成抛物线关系，I gain在每次成像时都需要调节，先慢慢增大至误差通道出现噪声震荡时回调I gain值至震荡消失为最佳，调节好I gain后将P gain设置为I gain的2倍。

Q2；测量两相之间电势差采用KPFM模式还是PFM模式？

采用KPFM模式。

Q3; 样品盘找不到镜头已经降到最底下了怎么办？

考虑显微镜聚焦没调节好，一般在倒影相调好样品虚像后再切换到sample相继续往下聚焦至样品实像。

Q4;片层两边黑是假象，怎么去掉？

片层两边黑是由于起伏对比度的差异，可以采用plane fit一阶拉平的方式，注意框选同一个面上的点。

Q5.AFM和MFM都可以出形貌图，这两种有什么区别？以哪个为准？
答：AFM出的图是形貌图，MFM出的图是抬起模式相图也就是磁畴分布图，在分析相图时需要对比形貌图，分析两者之间的差异从而得到磁分布的信息。

Q6.测量样品起伏度有极限值吗？
答：有极限值，最好1微米之内，5微米以内根据样品性质用轻敲模式扫描时降低扫描1速度可以实现，大于5微米的样品不建议使用AFM进行测试。

Q7. 样品尺寸较大，微米级的可以测吗？检测有必要吗？
答：样品尺寸横向大小微米级的可以使用AFM测试，根据你想得到的材料信息来判断有没有检测的必要，如果微米级起伏根据第4条回答来判断。

Q8.AFM力曲线中位移-力曲线和距离-力曲线如何转化？转化过程中需要注意哪些细节？
答：F-Z转换成F-D曲线可以在分析软件中修改，将display mode改为Force vs sep就可以直接转换。

Q9.样品是粉末，疏松度十分疏松，测量时，会不会因为粉末疏松，测不了啊？
答：一般粉末样品需要分散到硅片或云母表面测试。

Q10.MESP针最大磁场可以加到多大？
答：MESP的探针矫顽力在400Oe，测试的样品磁性较强时建议使用高矫顽力的探针或者低磁矩探针。

Q11.有镀层的针会不会更粗一些？
答：不会，一般探针针尖在2nm，镀层可以镀的厚度很薄，可以忽略。

Q12.AFM图上出现波纹状结构是什么原因呢？
答：AFM图上出现波纹考虑是激光干涉或机械振动，可以根据条纹的数量确定是高频还是低频噪声，激光干涉的话需要重新调节激光的位置，机械振动的话检查气浮台和真空吸附开关有没有打开。

Q13.电化学原子力显微镜是哪种？
答：将接触式的原子力显微镜用于电解质溶液研究电极的表面形貌，其力的作用原理与大气中的AFM相同。

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